Zeiss lanza el nuevo sensor Abis III para inspección de alta velocidad
El nuevo sensor Zeiss Abis III combina la inspección de alta velocidad con una detección fiable de todos los defectos superficiales relevantes, como abolladuras, protuberancias, marcas de hundimiento, ondulaciones, cuellos, grietas y ahora también arañazos y marcas de presión. El sistema inspecciona piezas móviles y fijas de forma reproducible y altamente precisa durante la producción en directo y dentro del tiempo de ciclo. Además, no solo es adecuado para el uso en línea, sino también para el uso en línea en el entorno de producción.
La tecnología patentada Multi-Color-Light permite detectar incluso los defectos más pequeños. Tras solo unos segundos, se emite un informe de inspección digital. De este modo, funciones como la parada Q y los detalles digitales de calidad, como las visualizaciones de defectos para la reprogramación programada, están siempre disponibles. Constituyen la base de los circuitos de bucle cerrado y la condición previa para implantar el control inteligente de procesos. Diseñado y desarrollado en Alemania para cumplir los más altos estándares de calidad, Zeiss Abis III es una solución idónea tanto para talleres de prensas modernos como para talleres de carrocería orientados al futuro. Proporciona un análisis continuo de la calidad de la superficie a lo largo de todo el proceso.
Según Zeiss, la inspección convencional de superficies, por ejemplo, tratando la superficie con muelas, lleva mucho tiempo y depende del usuario correspondiente. Esta inspección subjetiva puede provocar desacuerdos entre cliente y proveedor y, en consecuencia, quejas, reclamaciones o costosas tareas de clasificación o reelaboración. Con el uso del sensor Zeiss Abis III y la rápida tasa de detección de defectos de hasta 20 Hz, los procesos manuales y subjetivos de control de calidad se vuelven redundantes. El sistema, que consume pocos recursos, proporciona de forma continua y automática la base de datos necesaria para realizar retrabajos específicos, análisis rápidos de superficies y optimizaciones eficaces de los procesos.
El sistema de inspección de superficies Zeiss Abis III combina la inspección de alta velocidad con la detección fiable de defectos de acuerdo con el principio del 100%: inspección del 100% de todas las piezas producidas, de toda la superficie y de todos los tipos de defectos relevantes. Uno de los aspectos técnicos más destacados en este contexto es el módulo MCL de nuevo desarrollo. La tecnología patentada Multi-Color-Light permite detectar los tipos de defectos más pequeños.
En combinación con el software Zeiss Abis V20, las características de la superficie se detectan en cuestión de segundos y se evalúan de acuerdo con las especificaciones de las normas corporativas individuales. El software visualiza tipos de defectos como abolladuras, protuberancias, ondulaciones, cuellos y líneas de deslizamiento en tiempo real y almacena digitalmente los resultados de la inspección en una base de datos. De este modo, el certificado de calidad para los clientes está disponible y se puede recuperar en cualquier momento. La evaluación de los puntos calientes de defectos determinados facilita un rápido análisis de la causa raíz y, sobre su base, la definición de acciones correctivas específicas.
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En la mañana del 20 de febrero se ha desarrollado en la Casa de América de Madrid el V Foro ANFAC. El acto ha sido inaugurado por Josep María Recasens, presidente de ANFAC, y en él se han debatido los desafíos que afronta la automoción y sus posibles soluciones. Se ha abogado por incentivar las ayudas al eléctrico y se ha llamado a la unión del sector.
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